導電電阻率測試儀在基本表的基礎上，通過(guò)增加控制轉換、輸入過(guò)流保護，精密分流器、精密儀表放大器，實(shí)現直流電流（DC-μA.mA）的j確多量程測量。

方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

物體表面導電電阻率測試儀在基本表的基礎上，通過(guò)增加控制轉換、輸入過(guò)流保護，精密分流器、精密儀表放大器，實(shí)現直流電流（DC-μA.mA）的j確多量程測量。

四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?

高絕緣電阻率測試儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測量?jì)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見(jiàn)上述專(zhuān)題介紹。

四探針?lè )阶鑳x 方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.

LST-331四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?

絕緣材料表面體積電阻率測試儀LST-121超高測量范圍，量程達到0-2×1018Ω，取代指針式高阻計的*佳儀表。 LST-122 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測量?jì)x表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，