簡(jiǎn)要描述:介電損耗測量?jì)x作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內Z高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項*技術(shù):雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
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LJD-C型介電損耗測量?jì)x
一、概述:
LJD-C型介電損耗測量?jì)x作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內高的160MHz.LJD-C介電常數測試儀采用了多項技術(shù):
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高、幅度的高穩定。
計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低, Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
LJD-C的創(chuàng )新設計,無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。
二、主要技術(shù)特性:
Q 值測量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30100﹑300﹑1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差:≤ 5 % ± 滿(mǎn)度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差:≤7% ± 滿(mǎn)度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍: 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ~ 200pF
主電容調節范圍: 18 ~ 220pF
主電容調節準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
三、夾具工作特性
1.平板電容器:
片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
四、配置:
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
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